最直接的鍍膜控製方法是石英晶體微量平衡法(QCM)，這種儀器可（kě）以直接驅動蒸（zhēng）發源，通過PID控（kòng）製（zhì）循環驅動擋（dǎng）板，保持蒸發速率。隻要將儀器與係（xì）統控製軟件相連接（jiē），它就可以控製整個的鍍膜（mó）過程。但是(QCM)的精確度是有限的，部（bù）分原因（yīn）是由於它監控（kòng）的是被鍍膜的質量而不是（shì）其光學厚度。
    此外雖然QCM在較低溫度下（xià）非常穩（wěn）定，但溫度較高時，它會（huì）變得對溫度非常敏感。在長時間的加熱過程中（zhōng），很難阻止傳感器跌入這（zhè）個敏感區域，從而對膜層造成重大誤差。
    光學監控是高精（jīng）密鍍膜的的首選監控方式，這是因為它可以更精確（què）地控製（zhì）膜層厚度(如果運用得當)。精確度的改進源於（yú）很多因素（sù）,但最根本的原（yuán）因是（shì）對光學厚度的監（jiān）控（kòng）。
    OPTIMAL SWA-I-05單波長光學監控係統，是采用間接測控，結合汪博士開發（fā）的先（xiān）進（jìn）光學監控軟件，有效提高光（guāng）學反應對膜厚度變化靈敏度的理論和方法來減少終極誤差，提供（gòng）了反饋或傳輸的選擇模式和大範圍的監測波長。特（tè）別適合於各種（zhǒng）膜（mó）厚的鍍膜監控包（bāo）括非規（guī）整膜監控。

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