真空鍍膜塗(tú)層膜厚(hòu)測量方(fāng)式?
作者: 來源: 日期(qī):2021-07-14 12:19:06 人氣:1750
我們日常生活中,很多生活物(wù)品都經過鍍膜機鍍上(shàng)了一層膜層,讓(ràng)產品不僅變得更美觀,也更實用。但是很多人會有一個疑問,那既然是鍍了一層膜層,薄膜肯定是有厚度大小的,那麽薄膜(mó)厚度具體多厚呢,以及(jí)怎麽去測量?
薄膜(mó)必(bì)須沉積(jī)在基底之上, 所以(yǐ)離開了基片也就無(wú)從談薄膜沉積的問題。基片的清(qīng)洗好壞又對薄膜的(de)質(zhì)最有極共重要(yào)的影響。同時在薄膜的製作中還必須知道薄膜的厚度,脫離了薄膜的厚(hòu)度來談薄膜性質的測(cè)最也是亳無意(yì)義的。 所(suǒ)以, 膜厚的(de)測量和基片的清洗可以說(shuō)是和薄膜製作相關的重(chóng)要技術。一般所謂的厚度是指兩個完全平整(zhěng)的平行平麵之間(jiān)的距離,這個概念是一個幾何概念。
理想的薄膜厚度是指基片表麵和薄(báo)膜(mó)表麵之間的(de)距離。在薄膜形貌的三(sān)維度量(liàng)中,相對於(yú)薄(báo)膜的厚(hòu)度來講,其他兩(liǎng)維的度量可以說(shuō)是無窮大。由於實際上存在的表麵是(shì)不平整(zhěng)和不連續的,而且薄膜的內部還可能存在著氣孔、雜質、晶格缺陷和表麵吸附分子等等,所有要嚴格地定義和精確地測(cè)量薄膜的厚度實際上是很困難的。
膜厚的定義位當根據測址(zhǐ)的方法和測址的目的決定。 因此,同一個薄膜,使用不同的測量方法會得到(dào)不同的結果, 即不同的厚度。
在薄膜油測量中的表麵(miàn)並不是一個幾何的概念,而(ér)是一個 物埋概念,是指表麵分子(原子)的集合。 平均表(biǎo)麵是指表麵(miàn)原子所有的(de)點到這(zhè)個麵的距離代數和等(děng)於零, 平均表麵是一個兒何概念。
我(wǒ)們通常將(jiāng)基片的(de)一側的表麵分子的集合的平均(jun1)表麵稱為(wéi)基(jī)片表(biǎo)麵;薄膜上不和基片(piàn)接觸的那一側的表麵的平均表麵(miàn)稱為薄膜(mó)的形狀表麵,將所測量的薄膜原子重新排列,使其密度和大塊狀固體材料完全一樣且均勻的分布在基片表麵(miàn)上(shàng),這時(shí)平均表麵稱為薄膜質量等價表麵;根(gēn)據所(suǒ)測量薄膜的物理性質等效為一種長度和寬度與所測量的薄膜一樣的大塊(kuài)固體材料(liào)的薄膜,這時的平均表麵稱為薄膜物性(xìng)等價表麵。 形狀膜厚是比較接近於直觀形式的膜厚, 通常以µm為單位; 質量膜厚反映了薄膜中包含(hán)物質為多(duō)少,通常 以 µg/cm#8217;為單位, 物性(xìng)膜(mó)厚(hòu)在實際使用上較有用, 而且比較容易測量。
由於實(shí)際表麵(miàn)並不平整,同時薄膜(mó)製作過程中又不可避免地要有各種缺陷、 雜質和吸附分子等存在,所以不管用哪 一種方(fāng)法(fǎ)來定義和測量膜厚,都(dōu)是一(yī)個平均值,而且足包括了(le)雜質、缺陷以及吸附分子在(zài)內的薄膜的厚度值。
真空(kōng)鍍膜機鍍膜是在真空腔體(tǐ)下進行鍍膜的,對於測量膜厚度(dù)來說,是需要這方麵專業的測量儀才能測出厚度大小。